测试设备

在发货前需对芯片进行电测试,以保证其功能。一般来说,需要对电容和电阻进行检测。

Tester_5

34xx系列测试机

测试固件

测试夹具

主要特点:

  • 独一无二的测试与处理性能
  • 可配合各种不同阵列的元件,产能达到每小时45000片(每分钟750片)
  • 可进行滚轮接触或滑动接触,保证可靠良好的接触
  • 通过一个独特的接触测试面板,可以实现多点的接触测试
  • 可以配置4到5个测试单元进行电容损耗(CapDF),并联测试(CC),漏电流(VI),击穿电压(BDV)

主要特点:

  • 能满足非常苛刻的测试要求,可以对无源元件进行低电压测试。
  • 可以通过更改接触方式,对大多数无源元件和不同阵列的元件进行测试。
  • 适用于Kelvin,非Kelvin和不同阵列规格的测试

主要特点:

  • 专门用于对芯片上的低DCR元件进行测试,包括电阻、多层电感、贴片电感、铁氧体电感、共模电感、片式保险丝等其他片式元件,元件尺寸是0201-1英寸(公制0603-2.5cm)
  • 采用Kelvin测试时,探头的两个电极是彼此绝缘的,最薄可以测试0.003英寸厚度的产品 。